美國國家標準局（National Instituteof Standards and Technology，NIST）提供1300多種通過認證的標準參考材料即標樣（Standard Reference Materials®，SRM），這些標樣含有準確表征的組成成分和/或屬性，可用於(yu) 校準儀(yi) 器設備，驗證特定測量技術的準確性等作用。

NIST提供的標樣廣泛應用於(yu) 工業(ye) 、學術和政府機構，用來促進相關(guan) 研究的進展和開發過程。每種標樣均附帶分析證書(shu) 和相關(guan) 數據，作為(wei) 測量、校正的重要參考數據。

 在X射線衍射中，我們(men) 所用的X射線衍射儀(yi) 需要定期進行校正，包括角度、強度、峰型等參數的校正，在校正過程中，須用到NIST提供的SRM係列的標樣，本文主要介紹在XRD研究和工業(ye) 生產(chan) 領域所涉及到的SRM標樣。

標樣--角度標樣

角度校正標樣的作用：

• 校正和準確測定d值；

• 校正和準確測定晶胞參數；

• 作為(wei) 內(nei) 標，校正樣品位移/透過；

NIST常用角度校正標樣的規格參數：

重要提示：

SRM 640f 常用於(yu) 內(nei) 標樣品

標樣—峰型標樣

峰型校正標樣的作用：

• 確定儀(yi) 器分辨率；

• 用於(yu) Rietveld精修分析校正

• 用於(yu) 測定晶粒尺寸校正；

• 用於(yu) 測定應力校正；

• 確定XRD儀(yi) 器狀態，如分辨率、光路、光管功率VS時間；

 NIST常用峰型校正標樣的規格參數

重要提示：

SRM 640c 用於(yu) Rietveld精修（最佳角度範圍內(nei) ）；

SRM 1979用於(yu) 晶粒尺寸校正；

SRM 1976b 用於(yu) 校正XRD儀(yi) 器狀態；

標樣—定量分析校正

標樣—定量分析標樣

定量分析校正標樣的作用：

• 校正定量分析；

• 測試/估計定量分析軟件準確度；

• 測試/估計XRD儀(yi) 器狀態；

 NIST常用定分析標樣的規格參數

重要提示：

不同的方法需采用相應的SRM標樣；