NIST SRM1976c X射線粉末衍射儀器(標準品)

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標準參考材料® 1976c

X 射線粉末衍射儀(yi) 器響應標準

   NIST SRM1976c  X射線粉末衍射儀(yi) 器(標準品)由燒結氧化鋁圓盤組成，用於(yu) 校準 X 射線粉末衍射設備的線位置和強度作為(wei) 2θ 角的函數。 SRM 的固體(ti) 形式消除了由樣品加載過程引入的強度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個(ge) 單元由一個(ge) 直徑約為(wei) 25.6 毫米、厚度為(wei) 2.2 毫米的燒結氧化鋁圓盤組成。

   NIST SRM1976c  X射線粉末衍射儀(yi) 器(標準品)用於(yu) 生產(chan) 此 SRM 的製造工藝是為(wei) 生產(chan) 電子元件基板而開發的。用作這些基材前體(ti) 的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結構），具有片狀顆粒形態。血小板的直徑通常為(wei) 5 μm 至 10 μm，厚度為(wei) 2 μm 至 3 μm。圓盤的壓實過程導致軸對稱紋理基麵趨向於(yu) 與(yu) 圓盤表麵平行。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關(guan) 於(yu) 表麵法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進行液相燒結。未檢測到結晶ufc雷竞技。液相燒結中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，並在從(cong) 燒結溫度冷卻碎片的過程中鬆弛。這導致微應變的最小發展及其相關(guan) 的線展寬；盡管可以檢測到一些微應變，因為(wei) 具有 tanθ 依賴性的高斯展寬。鑒於(yu) 此，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM 1976c 可用於(yu) 獲得儀(yi) 器輪廓函數 (IPF) 的近似值。但是，不推薦使用 SRM 1976c 進行定量微觀結構分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專(zhuan) 用生產(chan) 運行中製造的，以確保微觀結構在晶粒尺寸、形狀、微應變和紋理方麵的一致性。

    NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值，因為(wei) 所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮在內(nei) 。被測量是表 1 中所示的相對強度（無量綱比）的認證值，以及表 2 中所示的晶格參數。計量溯源性是國際單位製 (SI) 單位，相對強度值是維度為(wei) 一，對於(yu) 晶格參數，維度是長度（以納米表示）。認證值和不確定度是根據 ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計算的。