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NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射

產(chan) 品時間:2023-02-20

簡要描述:

NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射(標準品)為(wei) 高分辨率 X 射線衍射 (HRXRD) 社區提供了國際單位製 (SI) [1] 可追溯的 Si (220) 透射間距、表麵到晶麵晶片我們(men) 的參考波長在反射中的誤切和表麵到矽 (004) 布拉格角


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標準參考材料® 2000

高分辨率 X 射線衍射校準標準


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     NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射本標準參考材料(SRM)為(wei) 高分辨率X射線衍射(HRXRD)社區提供了國際單位製(SI[1]可追蹤的SI220d間距,透射麵到晶麵晶片以及我們(men) 的參考波長的反射中的表麵到Si004)布拉格角。SRM 2000的一個(ge) 單元包括標稱50 nm25 mm×25 mm×0.725 mm雙拋光(100)取向單晶Si樣品Si0.85Ge0.15外延層和25nm Si帽。這些認證值可用於(yu) 校準HRXRD儀(yi) 器。

 

              NIST SRM 2000 高分辨率 X 射線衍射1SRM 2000認證值

 

                        數量(a)認證值擴展不確定度(b),k=2時的U

 

                                                     dSRM 0.192 016 1 nm22.5°C時)0.000 000 9 nm

 

                                    ξSRM 4.360 mrad 0.027 mrad

 

                                       fSRM360 mrad 16 mrad

 

                                                                                   xSRM1.534 mrad 0.072 mrad

 

                                                                                   ySRM 4.0810 mrad 0.019 mrad

 

                          θ表麵,SRM0040.604 785 rad 0.000 076 rad

 

                                   (a) 數量的標識見表2

 

                                   (b) 不確定度方法見[2-4]


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