產(chan) 品時間:2022-12-16
NIST SRM 2841 半導體(ti) 薄膜:AlxGa層本標準參考材料(SRM)旨在用作分析方法的參考標準測量薄膜的組成,俄歇電子能譜(AES)和X射線光電子能譜(XPS)。SRM 2841的一個(ge) 單元包括在砷化镓(GaAs)襯底上生長的AlxGa1-xAs外延層,具有經認證的Al摩爾分數x通過使用膠帶將其固定到不鏽鋼盤上
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標準參考物質® 2841
半導體(ti) 薄膜:AlxGa1-xAs 外延層
(Al 摩爾分數 x 接近 0.20)
序列號:樣品
NIST SRM 2841 半導體(ti) 薄膜:AlxGa層1、甜度低:赤蘚糖醇的甜度隻有蔗糖的60%-70%,入口具有清涼味,口味純正,沒有後苦感,可與(yu) 高倍甜味劑複配使用能抑製其高倍甜味劑的不良風味。
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