NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

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標準參考物質 2944

熒光光譜的相對強度校正標準：

紅色發射

樣品係列

NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

   本標準參考材料（SRM）用於(yu) 相對光譜的評估和校準具有連續激發源的穩態熒光光譜儀(yi) 的響應度和用於(yu) 測定單個(ge) 或類似熒光儀(yi) 器的日常或儀(yi) 器間強度變化，分別地SRM 2944的一個(ge) 單元由一塊反應杯形狀的實心玻璃組成。樣本係列單元Bi0XX和Bi0YY之間的序列號。該SRM的相對校正發射光譜E，以發射波長λEM=530 nm至830 nm的相對能量單位，波長間隔為(wei) 1nm，波長固定激發波長（λEX）為(wei) 515.0 nm。由於(yu) 峰值附近有較大的信噪比，因此排放λEM=590 nm至805 nm的範圍是大多數儀(yi) 器和應用的最佳範圍。請注意當用於(yu) 熒光光譜儀(yi) 的光譜校正時，標準的認證值成為(wei) 參考值用脈衝(chong) 光源。

認證值：NIST認證值是指NIST對其準確性有最高信心的值所有已知或可疑的偏見來源都已被調查或考慮[1]。E的認證值在95%置信水平下，每個(ge) 發射波長下相應的總不確定度U95如表所示表1和表2。E的計量溯源性為(wei) NIST光譜輻射度標度，以相對輻射度表示能量單位。SI波長的溯源性是指計量儀(yi) 表的波長溯源性。SRM的定位應使激發光束垂直於(yu) 一個(ge) 拋光麵，並位於(yu) 其中心，且與(yu) 從(cong) 與(yu) 激發光束成90度角的相鄰拋光麵收集發射。漫長的磨砂麵應背對著檢測係統。每個(ge) SRM的頂部都刻有自己的序列號麵部，使用時應麵朝上。磨砂麵可與(yu) 正麵或熒光幾何體(ti) 一起使用，或拋光麵可用於(yu) 不同於(yu) 上述規定的幾何形狀，但認證值在這些情況下成為(wei) 參考值。在25.0℃±0.5℃條件下，使用激勵帶寬(∆λEX）3.0 nm和發射帶寬(∆λEM）為(wei) 3.0 nm。

NIST SRM熒光光譜的相對強度校正

認證有效期：SRM 2944的認證在規定的測量不確定度範圍內(nei) 有效，直到2025年8月31日，前提是SRM按照本證書(shu) 中給出的說明進行處理和存儲(chu) （參見“搬運、儲(chu) 存和使用說明"）。如果SRM損壞，則認證無效，被汙染或以其他方式修改。