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NIST SRM 3600小角度X射線散射強度校準

產(chan) 品時間:2022-02-18

簡要描述:

NIST SRM 3600小角度X射線散射強度校準(標準品) 旨在用於(yu) 小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀(yi) 器的散射強度校準


本公司專(zhuan) 業(ye) 代理NIST國際標準品,詢價(jia) 訂購: 。


標準參考物質 3600

小角 X 射線散射絕對強度校準標準


本標準參考物質 (SRM) 旨在用於(yu) 小角度 X 射線散射 (SAXS) 儀(yi) 器的散射強度校準。 SAXS 測量表征了異質材料係統的微觀結構和納米結構:特別是微米級和納米級特征的尺寸分布,以及散射強度校準,它們(men) 的體(ti) 積分數或數量濃度,以及它們(men) 的表麵積 [1]。 SRM 3600 的一個(ge) 單元由一個(ge) 大約尺寸為(wei) 10 mm x 10 mm x 1 mm 的玻璃碳試樣組成。


NIST SRM 3600小角度X射線散射強度校準(標準品)

認證值:

認證值是絕對 X 射線散射強度,以每單位玻璃碳樣品體(ti) 積的 X 射線微分散射截麵 dΣ/dΩ 與(yu) 散射矢量的幅度 Q 的關(guan) 係給出.圖 1 顯示了超小角 X 射線散射 (USAXS) 儀(yi) 器的示意圖,該儀(yi) 器是用於(yu) 測量經認證的 X 射線散射強度值的主要儀(yi) 器。經認證的 dΣ/dΩ 值列於(yu) 表 1 中經認證的 Q 範圍為(wei) 0.008 Å–1 至 0.25 Å–1,並繪製在圖 2 中。 NIST 認證值是 NIST 對其準確性有最高置信度的值,因為(wei) 所有已知或可疑的偏差來源都已被調查或考慮 [2]。認證值基於(yu) 在環境條件下進行的測量。



參考值: 

dΣ/dΩ 與(yu) Q 的基於(yu) 小角中子散射 (SANS) 的值,針對 SAXS 重新縮放,在表 2 中提供並繪製在圖 3 中。測量的 SANS 散射強度已使用 SAXS 的比率重新縮放X 射線和中子散射對比因子,基於(yu) 碳原子的 X 射線和中子散射特性的可追溯表 [3,4]。參考值是未經認證的值,代表基於(yu) 可用數據的真實值的最佳估計;但是,這些值不符合 NIST 的認證標準,並且提供了相關(guan) 的不確定性,這些不確定性可能僅(jin) 反映測量再現性,可能不包括所有不確定性來源,或者可能反映多種分析方法之間缺乏足夠的統計一致性 [2]。


NIST SRM 3600小角度X射線散射強度校準(標準品)

信息值:

 SRM 3600 試樣的平均厚度是 1.055 毫米 ± 0.025 毫米,基於(yu) 對 56 個(ge) 試樣中的每一個(ge) 進行兩(liang) 次獨立的微米厚度測量。與(yu) 數值一起列出的不確定性是覆蓋因子 k = 2 的擴展不確定性,對應於(yu) 95% 的置信區間,預期單個(ge) 試樣,並且來自重複測量的標準偏差。信息值被認為(wei) 是可能對 SRM 用戶有用的值,但沒有足夠的信息來評估與(yu) 該值相關(guan) 的不確定性或僅(jin) 是有限的


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